可控硅怎么測萬用表？如何使用萬用表檢測可控硅的好壞？

可控硅怎么測萬用表？

在電子電路中，可控硅是一種非常重要的半導體器件，它能夠控制交流電的通斷。對于電子愛好者和技術人員來說，掌握如何使用萬用表檢測可控硅的好壞是一項基本技能。本文將詳細介紹如何使用萬用表來檢測可控硅的狀態。

萬用表檢測可控硅的原理

在開始檢測之前，我們需要了解萬用表檢測可控硅的原理。可控硅是一種四層三端半導體器件，它具有兩個主要的PN結，分別是J1和J2。可控硅的導通和關斷是由這兩個PN結的電壓和電流控制的。使用萬用表檢測可控硅時，我們主要關注這兩個PN結的狀態。

檢測前的準備工作

在檢測可控硅之前，需要做一些準備工作：

1. 確保萬用表處于良好的工作狀態，并且已經校準。

2. 將萬用表設置為二極管測試模式，因為可控硅的PN結類似于二極管。

3. 確保可控硅的引腳沒有短路或斷路。

檢測可控硅的步驟

步驟一：檢測可控硅的正向導通性

1. 將萬用表的紅色探針連接到可控硅的陽極（A）。

2. 將萬用表的黑色探針連接到可控硅的陰極（K）。

3. 觀察萬用表的讀數，如果讀數接近0.7V（硅二極管的正向導通電壓），則說明可控硅的正向導通性良好。

步驟二：檢測可控硅的反向阻斷性

1. 交換萬用表探針的位置，紅色探針連接到陰極（K），黑色探針連接到陽極（A）。

2. 觀察萬用表的讀數，如果讀數為無窮大（OL），則說明可控硅的反向阻斷性良好。

步驟三：檢測可控硅的觸發能力

1. 將萬用表設置為電阻模式。

2. 將紅色探針連接到可控硅的門極（G），黑色探針連接到陰極（K）。

3. 輕輕觸碰門極和陰極，觀察萬用表的讀數是否有明顯變化。如果讀數從無窮大變為低阻值，說明可控硅的觸發能力良好。

檢測結果的判斷

正向導通性不良

如果可控硅的正向導通性不良，可能是由于PN結損壞或者可控硅內部短路造成的。這種情況下，可控硅可能無法正常工作。

反向阻斷性不良

如果可控硅的反向阻斷性不良，可能是由于PN結擊穿或者可控硅內部短路造成的。這種情況下，可控硅在反向電壓下無法阻斷電流，可能導致電路故障。

觸發能力不良

如果可控硅的觸發能力不良，可能是由于門極電路損壞或者可控硅內部故障造成的。這種情況下，可控硅可能無法在門極觸發信號下導通。

結論

通過以上步驟，我們可以利用萬用表對可控硅進行基本的檢測。如果可控硅的正向導通性、反向阻斷性和觸發能力都良好，那么它就可以正常工作。如果檢測結果不理想，可能需要進一步檢查可控硅的電路連接或者更換新的可控硅。掌握這些檢測方法，對于電子電路的維修和故障診斷非常有幫助。